Test Research (SAN JOSE, CA) ha lanzado la versión de nueva generación de su sistema de inspección automatizada por rayos X (AXI) 3D TR7600F3D SII. Recientemente ha recibido el premio Global Technology Award 2020.
El sistema TR7600F3D SII se basa en una robusta plataforma mecánica que inspecciona las placas 2 veces más rápido que el modelo anterior. Además, el instrumento es capaz de inspeccionar grandes placas de circuito impreso de hasta 35,4 x 18 pulgadas (900 x 460 mm), lo que lo hace ideal para una gran variedad de industrias y aplicaciones. La alta calidad del TR7600F3D SII se complementa con un mantenimiento mínimo y una alta fiabilidad de inspección.
La plataforma AXI facilita el mantenimiento con una función de supervisión inteligente que incluye autocalibración y supervisión del estado de los componentes clave, lo que garantiza la trazabilidad del problema. Al estar preparado para big data, el sistema permite compartir datos con aplicaciones MES, lo que aumenta la productividad y la trazabilidad.
Desde sistemas automatizados de ensayo e inspección hasta analizadores de defectos de fabricación, comprobadores en circuito y equipos de ensayo funcional, TRI ofrece soluciones rentables para satisfacer una amplia gama de necesidades de ensayo e inspección.