Gowin Semiconductor, empresa que diseña y fabrica dispositivos lógicos programables (PLD), ha anunciado que el laboratorio de pruebas TUV ha certificado que el entorno de diseño FPGA EDA de GOWIN cumple las normas de seguridad funcional ISO 26262 e IEC 61508.
La certificación ofrece a los OEM de automoción la confianza de que los diseños que incorporan FPGAs GOWIN Arora-V (densidad media), Arora-II (densidad baja/media) o LittleBee (densidad baja) pueden cumplir los requisitos de seguridad funcional a nivel de sistema de ISO 26262 e IEC 61508. La familia Arora V FPGA de Gowin Semiconductor está diseñada para aplicaciones de alto rendimiento.
Presenta:
- interfaces de alta velocidad (de 270 Mbps a 12,5 Gbps);
- núcleo duro PCIe 2.1 compatible con los modos PCIe x1, x2, x8;
- módulo de núcleo duro MIPI de un canal con velocidad de hasta 2,5 Gbit/s;
- Interfaz DDR3 con velocidad de hasta 1333 Mbit/s.
Se espera que la recepción de la certificación de seguridad funcional genere un mayor interés por las FPGA de GOWIN, que están disponibles en versiones certificadas AEC-Q100 Grado 2 (AEC-Q100 Grado 1 está pendiente). La gama de productos de GOWIN cuenta con certificaciones de calidad y fiabilidad: IATF16949, ISO 9001, ISO 14001 e ISO/IEC 17025.
Presenta:
- interfaces de alta velocidad (de 270 Mbps a 12,5 Gbps);
- núcleo duro PCIe 2.1 compatible con los modos PCIe x1, x2, x8;
- módulo de núcleo duro MIPI de un canal con velocidad de hasta 2,5 Gbit/s;
- Interfaz DDR3 con velocidad de hasta 1333 Mbit/s.
Se espera que la recepción de la certificación de seguridad funcional genere un mayor interés por las FPGA de GOWIN, que están disponibles en versiones certificadas AEC-Q100 Grado 2 (AEC-Q100 Grado 1 está pendiente). La gama de productos de GOWIN cuenta con certificaciones de calidad y fiabilidad: IATF16949, ISO 9001, ISO 14001 e ISO/IEC 17025.